浅析卤代烷类对彩管安全性能的影响

• 作者: 张晓燕 李玉琪
• 来源期刊: 彩色显像管
• 学科: 工学
• 关键词: 屏锥 卤代烷 彩色显像管 安全性能
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 31-34
• 页数: 4页
• 分类号: TN141.32

摘要

在彩色显像管总装生产线的屏锥封接炉中，由于卤代烷类气体的混入，使封接炉内的氧化性气氛变为还原性气氛，从而改变了低熔点玻璃的封接性能，降低了屏锥的封接强度，同时引起了玻壳在封接炉、排气炉中炸管不良批量突发。这种事件不仅对彩管的产品质量产生影响，而且对管子的安全性能威胁很大。本文就这一问题产生的原因、机理及对策方法进行了详细的讨论。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李玉琪		3	0	0.0	0.0
2	张晓燕		4	0	0.0	0.0