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摘要:
立方GaAs(100)衬底上制备的GaN薄膜多为立方结构且立方相为亚稳相,采用水平常压MOCVD方法在立方GaAs(100)衬底上制备出了GaN薄膜.XRD测试表明,薄膜具有单一的相.结合对工艺条件的分析,认为薄膜具有六方结构.最后,通过Raman光谱测试,证实在立方GaAs衬底上制备出了单相六方GaN薄膜.还对立方GaAs衬底上制备出六方GaN薄膜的原因进行了讨论.
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文献信息
篇名 立方GaAs(100)衬底上制备单相六方GaN薄膜
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 金属有机化学气相沉积 氮化镓 砷化镓衬底 六方结构
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 313-316
页数 4页 分类号 TN304.54|TN304.2+3
字数 2576字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2001.03.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 齐鸣 中国科学院上海冶金研究所 34 145 8.0 9.0
2 李爱珍 中国科学院上海冶金研究所 52 397 10.0 16.0
3 孙一军 中国科学院上海冶金研究所 4 32 3.0 4.0
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半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
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1980
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