用XRD和ACS测量研究Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ超导体的应力钉扎机制

• 作者: 崔利杰 曹国辉 李阳 段瑞飞 董成 赵忠贤 马庆珠 魏龙
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 81-87
• 页数: 8页
• 分类号: O51
• 字数: 3767字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2001.02.001

摘要

利用X射线衍射(XRD)和交流磁化率(Acχ)方法系统地研究了Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ(x=0.0～1.0)超导体，研究发现Eu掺杂替代了Y晶位后引起了晶格失配.这种晶格失配与电流密度有密切的联系.对于不同掺杂成分样品，X射线衍射线形分析表明(006)及(007)衍射峰型随掺杂量变化，掺杂浓度在30%和70%附近时，半高宽(FWHM)出现极大值，表明此时样品的晶格失配最大.与此相对应，电流密度Js也在此掺杂浓度范围内达到极大值.我们在晶格失配应力场的钉扎模型下对实验现象进行了讨论，认为Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ超导体中由元素替代引起的晶格失配应力场是有效的钉扎中心.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵忠贤	中国科学院高能物理所	35	140	5.0	11.0
2	魏龙	中国科学院物理所	50	325	10.0	16.0
3	董成	中国科学院高能物理所	10	41	4.0	6.0
4	曹国辉	北京科技大学材料物理系	6	11	2.0	3.0
5	马庆珠	北京科技大学材料物理系	1	1	1.0	1.0