掺Y对二氧化钛低压压敏陶瓷性能的影响

• 作者: 李明明 李长鹏 王矜奉 苏文斌 陈洪存
• 来源期刊: 压电与声光
• 学科: 工学
• 关键词: 压敏材料 二氧化钛 电学性能 频谱
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 实验技术与测试方法
• 页码范围: 402-404,408
• 页数: 4页
• 分类号: TN379
• 字数: 3136字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2474.2001.05.024

摘要

通过对样品密度、介电常数、I-V特性及晶界势垒特性的测定和分析,研究掺Y对(Y,Nb)掺杂的二氧化钛低压压敏-电容性能的影响.掺入x(Y2O3)0.60%的样品显示出最高的非线性常数(α=7.86)以及最高的相对介电常数(εr=8.54×104)和样品密度(可达理论密度的98.8%),与该样品最高且窄的晶界缺陷势垒相一致,是一种较为理想的压敏-电容陶瓷.提出了TiO2@Y2O3@Nb2O5晶界缺陷势垒模型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李明明	济南大学物理系	15	76	4.0	8.0
2	苏文斌	济南大学物理系	1	12	1.0	1.0
3	王矜奉	济南大学物理系	1	12	1.0	1.0
4	李长鹏	济南大学物理系	1	12	1.0	1.0
5	陈洪存	济南大学物理系	1	12	1.0	1.0