关于同位素质谱仪的系统稳定性

• 作者: 刘文贵
• 来源期刊: 质谱学报
• 学科: 工学
• 关键词: 同位素质谱仪 分辨率R 峰形Ps 系统稳定性Ss 离子束 离子源
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 64-68
• 页数: 5页
• 分类号: TH843
• 字数: 2479字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2997.2001.02.009

摘要

同位素质谱仪的系统稳定性是衡量同位素质谱仪质量的重要指标之一,它直接影响检测数据的准确度与精确度.本文探讨了影响系统稳定性指标的主要因素,即几何参数影响和电气参数的影响,以期为解决此类问题提供帮助.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘文贵	宜昌地矿所同位素室	2	11	1.0	2.0