1.7MeV电子束在VO2热致相变薄膜中引起的结构和光电性能的变化

• 作者: 何捷 卢勇 卢铁城 林理彬 邹萍
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: VO2薄膜 结构 相变性能 电子辐照
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 525-528
• 页数: 4页
• 分类号: TQ135.1|O483|O484.5
• 字数: 2749字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2001.05.029

摘要

利用能量为1.7MeV、注量分别为1013～1015/cm2的电子辐照VO2薄膜,采用XPS、XRD等测试手段对电子辐照前后的样品进行分析,并采用光透射性能和电学性能测试研究了电子辐照对样品相变过程中光电性能的影响.结果表明电子辐照在VO2薄膜中出现变价效应,产生新的X射线衍射峰,带来薄膜化学成分的变化.电子辐照在样品中产生的这些变化对VO2的热致相变特性有明显影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林理彬	四川大学物理系	90	605	13.0	20.0
2	何捷	四川大学物理系	48	382	11.0	17.0
3	卢勇	四川大学物理系	27	243	8.0	14.0
4	卢铁城	四川大学物理系	71	351	9.0	14.0
5	邹萍	四川大学分析测试中心	27	214	9.0	13.0