在Tore Supra上用X模式反射技术测量边缘密度分布

• 作者: F.Clairet 向未来
• 来源期刊: 国外核聚变
• 学科: 工学
• 关键词: ToreSupra X模式反射计 边缘密度分布 等离子体 X模式反射技术 托卡马克装置
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 页码范围: 49-57
• 页数: 9页
• 分类号: TL657

摘要

在Tore supra上已研制了运行于频率范围为50－75GHz的一个宽带反射计，该系统使用非寻常模偏振，并用外差探测在20μs内进行例行测量，以保证高的动态范围灵活，它能得到信号的单个相位和幅度数据，密度分布是从原始相位完全自动计算的。初始化是与从反射信号幅度自动探测第一截止一起进行的，探测精度达到±0．5cm，这些分布现在是Tore Supra公用数据库的一部分，并能提供优于厘米范围的密度结构的细节，在就离子回旋共振频率和低混杂加功率给出的关于脱离等离子体行为和天线－等离子体耦合过程的实例中，对各种等离子体条件的测量的高可靠性使得这种诊断是研究特有边缘等离子体物理的一个理想工具，而且证明超热电子怎样干扰测量。