STIL设计和测试原理

• 作者: 修小林 高永强
• 来源期刊: 通信与电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 电子设计 STIL语言 测试 集成电路
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 25-27
• 页数: 3页
• 分类号: TN402

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	修小林		2	0	0.0	0.0
2	高永强		1	0	0.0	0.0