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Sony半导体参加国际集成电路展
Sony半导体参加国际集成电路展
作者:
张询
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
摘要:
在2001年3月26日于上海开幕的国际集成电路展览会上,Sony展出了用其半导体中的实力产品--CCD/LCD组成的诸多系统及方案和用于个人移动终端产品的各种器件.参展产品包括数码相机CCD/LCD方案、前投影机LCD系统、安全摄像CCD系统方案、扫描仪CCD方案、用于个人移动终端产品的LCD、RF IC及其它和用于个人移动终端产品的聚合锂离子电池.
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半导体
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可靠性测试
数据处理
结构相似性原理在半导体集成电路检验中的应用
结构相似性
集成电路
分组
检验方案
内容分析
文献信息
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期刊文献
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名
Sony半导体参加国际集成电路展
来源期刊
电子产品与技术
学科
关键词
年,卷(期)
2001,(6)
所属期刊栏目
企业专栏
研究方向
页码范围
89
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1页
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中文
DOI
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子产品与技术
主办单位:
中国国际贸易促进委员会
中国国际商会
出版周期:
月刊
ISSN:
1006-5083
CN:
11-3587/F
开本:
出版地:
北京市复兴门外大街1号
邮发代号:
创刊时间:
语种:
chi
出版文献量(篇)
231
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0
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