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摘要:
根据传热学理论分析了内含缺陷和脱粘的材料表面温差,给出了键合硅片表面温差与缺陷的深度、厚度及加热时间之间关系的计算结果,介绍了利用红外热像仪检测材料内部脱粘的方法.
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文献信息
篇名 材料内部脱粘的红外无损检测
来源期刊 红外技术 学科 工学
关键词 红外检测 缺陷
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目 红外应用
研究方向 页码范围 39-42
页数 4页 分类号 TN219
字数 1775字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-8891.2001.03.011
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研究主题发展历程
节点文献
红外检测
缺陷
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外技术
月刊
1001-8891
53-1053/TN
大16开
昆明市教场东路31号《红外技术》编辑部
64-26
1979
chi
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3361
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