大口径光学元件波前功率谱密度检测

• 作者: 李伟 柴林 许乔 顾元元
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学元件评价 光学检测 波前功率谱密度
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 344-347
• 页数: 4页
• 分类号: TH74
• 字数: 2626字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2001.03.020

摘要

波前功率谱密度(PSD)被用于评价惯性约束聚变激光驱动器光学元件在中频区域的波前误差。高功率固体激光装置对大口径光学元件波前质量的要求有别于传统光学系统，要求对波前误差进行较高空间频率的测量。探讨了大口径光学元件波前的高空间分辨率检测技术，采用大口径相移干涉仪作为波前检测仪器，通过傅里叶变换获得波前一维功率谱密度分布。对惯性约束聚变激光驱动器的典型光学元件进行了波前功率谱密度的检测和分析。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许乔		82	1074	17.0	27.0
2	顾元元		5	205	5.0	5.0
3	柴林		4	129	4.0	4.0
4	李伟		2	100	2.0	2.0