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摘要:
结合参加“先进封装技术研讨会”的情况和分发给与会代表的资料,介绍了芯片级的封装技术的现状及发展趋势.
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系统级封装
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测试与仿真
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 芯片级的封装技术——参加“先进的封装技术研讨会”评述
来源期刊 红外技术 学科 工学
关键词 芯片级封装 光刻 长柱 倒焊
年,卷(期) 2001,(4) 所属期刊栏目 综述与评论
研究方向 页码范围 4-7
页数 4页 分类号 TN215
字数 2369字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-8891.2001.04.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李建林 10 22 4.0 4.0
2 姜军 4 81 2.0 4.0
传播情况
(/次)
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2001(0)
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  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
芯片级封装
光刻
长柱
倒焊
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外技术
月刊
1001-8891
53-1053/TN
大16开
昆明市教场东路31号《红外技术》编辑部
64-26
1979
chi
出版文献量(篇)
3361
总下载数(次)
13
总被引数(次)
30858
论文1v1指导