蓝光聚合物单层薄膜发光器件的退化机理

• 作者: 朱长纯 闫金良
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电致发光 聚合物 光致发光
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 224-227
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.52
• 字数: 2460字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2001.02.023

摘要

聚合物电致发光器件以其独有的优点在显示方面显现了光明的前景.聚合物电致发光器件的稳定性是器件实用化过程中所面临的一个重要的技术难题.合成了单层薄膜电致发光器件ITO/P10/A1.研究了聚合物材料本身的退化，聚合物与金属电极之间界面的结构变化和电极对聚合物器件性能的影响.发现空气中的氧和热效应是引起聚合物膜不稳定的主要原因，ITO膜释放的氧破坏聚合物的发光层，器件工作时聚合物/金属界面形成的气泡导致器件电致发光区暗斑的出现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱长纯	西安交通大学电信学院	215	2372	22.0	41.0
2	闫金良	西安交通大学电信学院	8	41	3.0	6.0