测试自动化在MCU设计中的应用

• 作者: 刘方海 栾铭 王晓蕾
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: MCU设计,参照测试,Verilog HDL,C模型,测试自动化
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: MCU专题研究
• 页码范围: 12-15
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2001.04.004

摘要

文章以参照测试为理论基础、以MCU设计为实例,阐述了在使用Verilog HDL进行MCU设计过程中如何利用高级语言C描述的MCU模型参与测试自动化的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王晓蕾		3	10	2.0	3.0
2	刘方海		2	9	2.0	2.0
3	栾铭		1	7	1.0	1.0