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高速芯片校准和测试四端口微波测试系统
高速芯片校准和测试四端口微波测试系统
作者:
孙宁
熊时泽
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芯片
微波测试系统
集成电路
摘要:
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文献信息
篇名
高速芯片校准和测试四端口微波测试系统
来源期刊
通信与电子测试
学科
工学
关键词
芯片
微波测试系统
集成电路
年,卷(期)
2001,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
46-47
页数
2页
分类号
TN407
字数
语种
DOI
五维指标
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芯片
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期刊影响力
通信与电子测试
主办单位:
中国电子报社
出版周期:
双月刊
ISSN:
1009-6361
CN:
11-4540/TN
开本:
出版地:
北京市石景山路23号(中础大厦501室)
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
54
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