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摘要:
使用X射线光电子能谱(XPS)和扫描电子显微镜(SEM)等表面分析方法,研究未启封、使用过未失效和使用过失效的继电器触点表面的形貌、组份和结构.结果表明,经过使用后触点表面烧蚀严重并发生磨损,其组份中含Ag、Sn、C和O等原子.C和O的XPS峰显示,触点表面氧化膜和碳化物的形成,导致接触电阻增大,从而影响继电器的稳定性和使用寿命.
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文献信息
篇名 电磁继电器触点表面的SEM和XPS研究
来源期刊 厦门大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 电磁继电器 触点表面 光电子能谱 扫描电子显微镜
年,卷(期) 2001,(4) 所属期刊栏目 物理学技术科学
研究方向 页码范围 857-861
页数 5页 分类号 TM581.3|TG172
字数 3092字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0438-0479.2001.04.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张棋河 厦门大学分析测试中心 9 52 4.0 7.0
2 王水菊 厦门大学分析测试中心 21 199 9.0 13.0
3 徐富春 厦门大学分析测试中心 11 91 6.0 9.0
4 林秀华 厦门大学物理学系 20 420 6.0 20.0
5 汤丁亮 厦门大学分析测试中心 15 176 6.0 13.0
6 陆宁懿 4 27 4.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
电磁继电器
触点表面
光电子能谱
扫描电子显微镜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
厦门大学学报(自然科学版)
双月刊
0438-0479
35-1070/N
大16开
福建省厦门市厦门大学囊萤楼218-221室
34-8
1931
chi
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