热像仪在检测电子装置发热方面的应用

• 作者: 高宗仁
• 来源期刊: 世界产品与技术
• 年，卷（期）: 2001,（8）
• 所属期刊栏目: 仪器仪表
• 页码范围: 76-77
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

热成像术对于检测半导体和电子装置中的热斑点是一种极有价值的技术.由于新开发的产品总是采用较之以往更加小型和更为复杂的元件,并在单位体积中有更高的功能,较之旧型设备今天你似乎更加需要找出热斑点.