使用两参数的韦伯分布来作为研究CRT的寿命模型

• 作者: 高岚
• 来源期刊: 彩色显像管
• 学科: 工学
• 关键词: 韦伯分布 寿命模型 阴极射线管
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TN14

摘要

在本论文中，CRT已经过2000小时加速寿命试验，现在使用其两参数韦伯分布作为分析研究CRT寿命所用的模型，它与观测到的寿命试验数据非常符合。