聚乙烯膜对样品残余应力测试的影响

• 作者: 柏朝茂 董平 陈勇忠
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: X射线应力分析 残余应力 聚乙烯膜
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 187-192
• 页数: 6页
• 分类号: TG407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2001.02.017

摘要

采用X2001应力分析仪测试了α-Fe和铍样品表面分别覆盖聚乙烯膜前后的残余应力，探讨了残余应力测试值变化的原因及其规律。样品表面覆盖聚乙烯膜后，由于校准距离D的增大，使得衍射峰向低角度方向偏移，从而引起应力实测值发生了改变。通过对应力实测值进行修正，可获得样品内的真实应力。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董平		28	133	7.0	10.0
2	柏朝茂		15	78	6.0	8.0
3	陈勇忠		8	17	3.0	4.0