磁偏转线圈的一个简单模型

• 作者: 屠彦 张健 郑姚生 雷威
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 磁偏转 光栅畸变 会聚误差
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 221-227
• 页数: 7页
• 分类号: TM552
• 字数: 1853字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2001.03.011

摘要

本文针对复杂的磁偏转线圈实体,提出了一个简单的模型,使得对实际偏转线圈结构的测量和数值模拟都较为简单.利用该模型,对实际14″彩色显像管(CRT)的偏转线圈绕线结构进行了测量,在此基础上对该偏转线圈所产生的偏转磁场、光栅畸变和会聚误差进行了数值模型.计算所得结果与测量值相比,光栅畸变的最大误差为0.84%,会聚误差的最大误差为0.61 mm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	屠彦	东南大学电子工程系	87	325	8.0	13.0
2	雷威	东南大学电子工程系	89	538	12.0	18.0
3	张健	东南大学电子工程系	51	325	11.0	16.0
4	郑姚生	东南大学电子工程系	18	68	5.0	7.0