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IC测试技术标准的新变化
IC测试技术标准的新变化
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摘要：
任何一种电子产品(从PC到因特网设备)都离不开体积更小、功能更强的芯片.正是芯片推动着IC飞速的发展,同时,它也推动着IC电子设计自动化和测试技术的发展,但是测试不可避免地要滞后于IC的开发.
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期刊影响力
电子产品与技术
主办单位：
中国国际贸易促进委员会
中国国际商会
出版周期：
月刊
ISSN：
1006-5083
CN：
11-3587/F
开本：
出版地：
北京市复兴门外大街1号
邮发代号：
创刊时间：
语种：
chi
出版文献量（篇）
231
总下载数（次）
0
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232
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