天线平面近场测量中一种近远场变换方法研究

• 作者: 刘瑞祥 刘超 杨仕明 薛正辉 高本庆
• 来源期刊: 微波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 天线平面近场测试 近远场变换
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 18-25
• 页数: 8页
• 分类号: TN01
• 字数: 5532字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-6122.2001.01.004

摘要

本文研究了一种应用于天线平面近场测量中完成近远场变换的数值算法。利用此方法可以依据天线平面近场测试数据快速简便地求得天线远场方向图及其它特性，其精度较高；同时可以很方便地进行探头修正，并讨论天线平面近场测试中各关键参数对测试结果的影响。本文给出了理论依据和具体计算实例，与传统方法进行了比较，并得出了结论。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高本庆	北京理工大学电子工程系	85	788	15.0	23.0
2	薛正辉	北京理工大学电子工程系	47	388	11.0	18.0
3	刘瑞祥	北京理工大学电子工程系	24	160	7.0	11.0
4	杨仕明	北京理工大学电子工程系	20	304	11.0	17.0
5	刘超	北京理工大学电子工程系	11	106	7.0	10.0