同位素X射线荧光分析技术在汞锑矿的应用研究

• 作者: 吴建平
• 来源期刊: 四川有色金属
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 特征X射线 工作曲线
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 理化检验
• 页码范围: 56-58
• 页数: 3页
• 分类号: TD8
• 字数: 1705字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4079.2001.03.013

摘要

本文主要介绍了利用同位素X射线荧光分析方法在陕西青铜沟汞锑矿对汞锑元素分析的方法研究与应用效果.阐述了如何用X荧光分析方法同时进行汞锑两种元素分析,并证明了这一方法在该矿山应用的可行性.通过对室内样品定量测量效果来看,还可以解决矿车在线矿石品位半定量计算,以及坑道巷道中代替刻槽取样等指导性工作.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴建平	成都理工学院核工系	55	331	9.0	16.0