用光电流谱研究多孔硅微腔的光电特性

• 作者: 熊卫华 熊祖洪 陆日方
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光电流 多孔硅微腔 PL谱
• 年，卷（期）: 2001,（9）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1127-1130
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.1+2
• 字数: 1462字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2001.09.008

摘要

利用光电流谱对全硅基多孔硅微腔的吸收特性进行了研究,在光电流谱中观察到λ1=742nm主峰.同时也对多孔硅微腔的PL谱和单层多孔硅的光电流谱进行了测量,结合有效折射率方法和菲涅耳公式,对照PL谱和单层多孔硅的光电流谱,对常温下多孔硅微腔的光电流谱进行解释.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊祖洪		5	63	4.0	5.0
2	熊卫华		1	4	1.0	1.0
3	陆日方		1	4	1.0	1.0