钾膨胀石墨层间化合物(K-EGICS)的电阻率测量

• 作者: 孔洪亮 曾荣树 陈代璋
• 来源期刊: 岩石矿物学杂志
• 学科: 地球科学
• 关键词: 膨胀石墨 钾膨胀石墨层间化合物 电阻率 电导率
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 167-170
• 页数: 4页
• 分类号: P579
• 字数: 2142字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6524.2001.02.008

摘要

在低温惰性条件下合成的钾膨胀石墨层间化合物(K-EGICS)的电学性能与膨胀石墨的电学性能完全相反,随着温度的升高,K-EGICS的电阻率逐渐升高,电导率逐渐降低.这一现象是由客体材料钾自身的结构及其与膨胀石墨化合时的键性决定的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾荣树	中国科学院地质与地球物理研究所	37	842	18.0	28.0
2	孔洪亮	中国科学院地质与地球物理研究所	6	101	5.0	6.0
3	陈代璋		4	38	3.0	4.0