三种检材的直接免疫荧光检查诊断口腔天疱疮

• 作者: 朱越广 李伯友 赵华婷
• 来源期刊: 广东医学
• 学科: 医学
• 关键词: 口腔黏膜 分离上皮 直接免疫荧光 天疱疮
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 临床研究
• 页码范围: 399-400
• 页数: 2页
• 分类号: R78
• 字数: 1563字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9448.2001.05.019

摘要

目的　对口腔损害的黏膜组织、损害缘的分离上皮组织(不含基底细胞层)、损害面的脱落细胞涂片作直接免疫荧光(DIF)检查，以评估这3种检材对诊断天疱疮的可靠性。方法　收集28例口腔天疱疮，每一患者同时作上述3种取材的DIF检查。结果　28例黏膜组织及分离上皮组织标本的DIF检查全部阳性(IgG)，而28例脱落细胞涂片标本只有24例阳性(IgG)。结论　黏膜组织与分离上皮组织作DIF检查以诊断天疱疮，两者的可靠性相同，但后者取材明显比前者容易；脱落细胞涂片作DIF检查的可靠性差，不宜作诊断天疱疮的DIF底物。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱越广	中山医科大学孙逸仙纪念医院口腔科	3	57	2.0	3.0
2	赵华婷	中山医科大学孙逸仙纪念医院口腔科	3	57	2.0	3.0
3	李伯友	中山医科大学孙逸仙纪念医院皮肤科	1	2	1.0	1.0