一氧化二氮的光电离质谱研究

• 作者: 刘小井 徐克尊 朱林繁 杨涛 江锡满 王映雪 苑震生
• 来源期刊: 化学物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光学振子强度 电子能量损失符合谱 一氧化二氮 电离 预解离
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 33-39
• 页数: 7页
• 分类号: O561.5
• 字数: 3706字
• 语种: 英文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-0068.2001.01.004

摘要

在入射电子能量2500eV、能量分辨200meV的条件下测量了一氧化二氮分子在7.8～24.5 eV的光学振子强度密度谱和光电离质谱,报道了N2O+、NO+、O+、N2+和N+等离子在较高能量分辨下的部分光学振子强度密度,首次给出了一氧化二氮分子在13.0～21.0 eV能区中性解离的振子强度密度.并在对这些数据进行分析的基础上阐述了一氧化二氮分子超激发态的不同退激发道的竞争过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨涛	中国科学技术大学近代物理系原子分子物理实验室	132	1269	18.0	32.0
2	徐克尊	中国科学技术大学近代物理系原子分子物理实验室	13	46	4.0	6.0
3	朱林繁	中国科学技术大学近代物理系原子分子物理实验室	10	17	3.0	4.0
4	刘小井	中国科学技术大学近代物理系原子分子物理实验室	7	17	3.0	4.0
5	王映雪	中国科学技术大学近代物理系原子分子物理实验室	3	12	2.0	3.0
6	江锡满	中国科学技术大学近代物理系原子分子物理实验室	3	9	2.0	3.0
7	苑震生	中国科学技术大学近代物理系原子分子物理实验室	6	9	2.0	3.0