低稀释比制样技术与多类型地质样品 X射线荧光分析方法研究

• 作者: 唐力君 江葛 罗立强
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 样品制备 低稀释比
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: 研究报告与简报
• 页码范围: 253-256
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34|O6-339
• 字数: 2913字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2001.04.003

摘要

研究制定了在X射线荧光光谱分析中适用于多类型地质样品的低稀释比制样技术.确定了用四硼酸锂和偏硼酸锂混合试剂作为熔剂,使用m样品:m熔剂=1:3的稀释比制样,对4种不同种类的地质材料进行了实验,并采用基本参数法和理论a系数法校正基体效应,得到了准确度较高的定量分析结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐力君		8	71	5.0	8.0
2	罗立强		43	507	14.0	21.0
3	江葛		1	5	1.0	1.0