原文服务方: 原子能科学技术       
摘要:
对两种大容量静态存储器(SRAM)HM628128、HM628512进行了同一字节多位翻转(SMU)实验研究.HI-13串列加速器提供的F、Cl及Br离子轰击样品时,采用网络控制的6116-628512全系列SRAM单粒子效应测试系统进行动态检测,得到了两种器件的单粒子翻转(SEU)以及SMU的σ-LET曲线,分析了LET值以及测试图形对截面的影响.研究结果将为航天器抗辐射加固设计以及轨道翻转率预示提供重要依据.
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文献信息
篇名 静态存储器同一字节多位翻转实验研究
来源期刊 原子能科学技术 学科
关键词 静态存储器 单粒子翻转 同一字节多位翻转 测试图形
年,卷(期) 2001,(6) 所属期刊栏目 研究报告
研究方向 页码范围 485-489
页数 5页 分类号 TL99
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-6931.2001.06.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李志常 中国原子能科学研究院核物理研究所 12 41 5.0 6.0
2 李淑媛 中国原子能科学研究院核物理研究所 9 34 4.0 5.0
3 张庆祥 2 10 1.0 2.0
4 杨兆铭 3 12 2.0 3.0
5 江华 中国原子能科学研究院核物理研究所 1 9 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
静态存储器
单粒子翻转
同一字节多位翻转
测试图形
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
原子能科学技术
月刊
1000-6931
11-2044/TL
大16开
北京275信箱65分箱
1959-01-01
中文
出版文献量(篇)
7198
总下载数(次)
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总被引数(次)
27955
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