介质厚度对MLCC的TC、TVC特性影响

• 作者: 吴霞宛 崔靖杰 李小图 王希忠 王洪儒
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 钛酸钡 电容量温度特性 多层陶瓷电容器
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 20-22
• 页数: 3页
• 分类号: TM534+.1
• 字数: 3603字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2001.01.010

摘要

研究了细晶钛酸钡介质层厚度对MLCC的TC、TVC特性的影响。结果表明介质层厚度≥27 μm时,MLCC的TC、TVC特性符合2X1(BX)特性要求。在施加直流偏压时，-25%≤ΔC／C≤+15%。MLCC的绝缘电阻为1011Ω，损耗小于150×10－4。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李小图		9	55	3.0	7.0
2	崔靖杰		5	32	3.0	5.0
3	吴霞宛		52	469	11.0	19.0
4	王洪儒		31	256	10.0	15.0
5	王希忠		2	4	2.0	2.0