用X射线双晶衍射方法测定GaMnAs组分

• 作者: 修慧欣 吴金良 杨君玲 林兰英 钟兴儒 陈诺夫
• 来源期刊: 科学通报
• 学科: 工学
• 关键词: GaMnAs单晶 稀磁半导体 X射线衍射 晶格参数 Mn组分
• 年，卷（期）: 2001,（24）
• 所属期刊栏目: 简报
• 页码范围: 2035-2038
• 页数: 4页
• 分类号: TN3
• 字数: 2258字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0023-074X.2001.24.003

摘要

对计算化合物晶体点缺陷的模型做了改进, 在此基础上建立了一种精确测定GaMnAs中Mn组分的方法, 并且在测定GaMnAs晶格参数的实验过程中, 建立了一种消除X射线衍射仪零点漂移的方法, 提高了测定晶格参数的精确度. 采用该方法测试分析了离子束外延技术制备的GaMnAs单晶中Mn组分.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林兰英	中国科学院半导体研究所	33	145	7.0	10.0
2	陈诺夫	中国科学院半导体研究所	33	154	6.0	11.0
3	修慧欣	中国科学院半导体研究所	1	7	1.0	1.0
4	杨君玲	中国科学院半导体研究所	3	7	1.0	2.0
5	吴金良	中国科学院半导体研究所	8	14	2.0	3.0
6	钟兴儒	中国科学院半导体研究所	4	12	2.0	3.0