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摘要:
通过引入有效时差的概念,提出了一种可模拟光刻工艺参数间的相互关系及优化光刻参数的方法。与Dill及Mack等的方法相比,该方法可直接建立光刻工艺参数之间的关系,并可对光刻工艺进行优化设计
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工艺
比较
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文献信息
篇名 光刻工艺参数的优化方法
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 光刻工艺 有效时差 优化设计
年,卷(期) 2001,(1) 所属期刊栏目 研究论文与技术报告
研究方向 页码范围 52-53,61
页数 3页 分类号 TN305.7
字数 1930字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.2001.01.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘忠安 南京电子器件研究所国家平板显示工程技术研究中心 5 37 3.0 5.0
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节点文献
光刻工艺
有效时差
优化设计
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
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22
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