红外焦平面阵列CMOS读出电路参数的计算机辅助测试系统

• 作者: 杨菁 汪涛 袁祥辉 贾功贤
• 来源期刊: 红外技术
• 关键词: 红外焦平面阵列 CMOS读出电路 复杂可编程逻辑器件 计算机辅助测试
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 字数: 1962字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2001.02.012

摘要

读出电路是红外焦平面器件研究的关键技术之一,本文研制出一种用于CMOS读出电路参数测试的计算机辅助测试系统.该系统可靠、精度高,有完整的软硬件环境,以适应各种读出电路的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁祥辉	重庆大学光电工程学院	87	846	16.0	25.0
2	汪涛	重庆大学光电工程学院	53	266	9.0	12.0
3	贾功贤	重庆大学光电工程学院	6	67	5.0	6.0
4	杨菁	重庆大学光电工程学院	3	8	1.0	2.0