用场发射显微镜研究单壁碳纳米管场发射

• 作者: 侯士敏 刘惟敏 孙建平 张兆祥 施祖进 薛增泉 赵兴钰 顾镇南
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 场发射 场发射显微镜 单壁碳纳米管 逸出功
• 年，卷（期）: 2001,（9）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质：电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 1805-1809
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 3148字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2001.09.034

摘要

利用场发射显微镜在小于4.0×10-7Pa压强条件下研究了单壁碳纳米管微束在不同温度加热除气后的场发射变化,得出随着除气温度的升高,碳纳米管逸出功经历了从大到小再变大的变化过程.在清洁态(1000℃除气)对应有最小的逸出功,此时场发射图像显示出一定的细致结构.继续升高温度,碳纳米管发生塌缩.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张兆祥	北京大学电子学系	26	156	7.0	11.0
2	薛增泉	北京大学电子学系	66	466	11.0	19.0
3	刘惟敏	北京大学电子学系	40	283	8.0	15.0
4	施祖进	北京大学化学与分子工程学院	27	590	8.0	24.0
5	赵兴钰	北京大学电子学系	28	187	7.0	13.0
6	侯士敏	北京大学电子学系	42	265	8.0	15.0
7	顾镇南	北京大学化学与分子工程学院	47	888	11.0	29.0
8	孙建平	北京大学电子学系	12	59	4.0	7.0