单壁碳纳米管和W针尖热处理时残气质谱

• 作者: Xue Zeng-Quan 刘惟敏 张兆祥 张浩 施祖进 薛增泉 赵兴钰 顾镇南
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单壁碳纳米管 四极质谱 残气
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 32-35
• 页数: 4页
• 分类号: TB383
• 字数: 3047字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8935.2001.02.008

摘要

分别对W针尖上未组装和组装单壁纳米管进行热处理，然后对所得残气质谱图进行记录和分析。发现在热处理过程中，脱附出一定量的原子C和原子O，然后结合成为CO和CO2被释放出来。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张兆祥	北京大学电子学系	26	156	7.0	11.0
2	薛增泉	北京大学电子学系	66	466	11.0	19.0
3	刘惟敏	北京大学电子学系	40	283	8.0	15.0
4	施祖进	北京大学化学与分子工程学院	27	590	8.0	24.0
5	张浩	北京大学电子学系	40	197	9.0	12.0
6	赵兴钰	北京大学电子学系	28	187	7.0	13.0
7	顾镇南	北京大学化学与分子工程学院	47	888	11.0	29.0