基于ARI测井提高双侧向电阻率曲线纵向分辨率的研究

• 作者: 刘红歧 夏宏泉 杨双定 王拥军
• 来源期刊: 测井技术
• 关键词: 神经网络[方位电阻率成像测井]双侧向测井高分辨率电阻率测井曲线薄层
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 处理解释
• 页码范围: 114-118
• 页数: 5页
• 分类号: TE2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1338.2001.02.007

摘要

夏宏泉，王拥军，杨双定等．基于ARI测井提高双侧向电阻率曲线纵向分辨率的研究．测井技术，2001，25（2）：114～118 介绍了一种提高双侧向电阻率测井曲线纵向分辨率的新方法。该方法根据方位电阻率成像（ARI）测井具有较高的垂直分辨率和较大的探测深度等特点，借助于BP神经网络技术，实现方位电阻率成像测井与常规双侧向电阻率测井之间的非线性标定，并构成1条高分辨率的电阻率曲线，旨在提高常规双侧向电阻率测井分辨薄层的能力。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏宏泉		146	1109	19.0	25.0
2	刘红歧		10	147	7.0	10.0
3	王拥军		7	77	5.0	7.0
4	杨双定		1	5	1.0	1.0