用X-射线能谱(XPS)和二次离子质谱(SIMS)分析法研究烟煤镜质组低温氧化过程初探

• 作者: 杜淑凤
• 来源期刊: 煤质技术
• 学科: 工学
• 关键词: 烟煤 氧化反应 X-射线能谱(XPS) 二次离子质谱(SIMS)
• 年，卷（期）: 2001,（z1）
• 所属期刊栏目: 国外技术
• 页码范围: 38-43
• 页数: 6页
• 分类号: TQ53
• 字数: 6579字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7677.2001.z1.012

摘要

研究了两种澳大利亚烟煤(悉尼盆地,Greta和Whybrow煤层)镜质组煤样的表面氧化过程.将煤样在空气中进行热处理,温度在20～120℃之间,试验时间为370 d.X-射线能谱(XPS)和二次离子质谱(SIMS)的分析结果清楚表明:在不同氧化条件下,煤表面有机物中含氧官能团发生了明显变化,得到的氧化产物包括含有羟基或醚键、羰基、羧基等的化合物.氧化温度的提高,加速了羧基官能团的形成.研究发现,煤表面羧基官能团含量可用来评估低硫烟煤氧化程度.这将有利于选煤技术的研究.