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摘要:
对P-硅基体的MOS,MNS,MNOS3种钝化系统通过C-V特性测试和电性能分析,系统比较了不同结构及在不同的工艺条件下的介面态,介面固定正电荷和漏电流等参数。结果表明对于MIS/Ilp-Si太阳电池,通过工艺优化,MNOS可以发挥良好的表面钝化和存储固定正电荷的功能。
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关键词热度
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文献信息
篇名 MIS/IL p-Si太阳电池的几种低温表面钝化
来源期刊 太阳能学报 学科 工学
关键词 太阳电池 钝化 界面态 固定正电荷 C- V测量
年,卷(期) 2001,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 21-24
页数 4页 分类号 TK514
字数 2166字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0254-0096.2001.01.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 崔容强 上海交通大学应用物理系太阳能研究所 38 544 14.0 22.0
2 孙铁囤 上海交通大学应用物理系太阳能研究所 11 95 5.0 9.0
3 曾为民 上海交通大学应用物理系太阳能研究所 1 1 1.0 1.0
传播情况
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1981(1)
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2012(1)
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研究主题发展历程
节点文献
太阳电池
钝化
界面态
固定正电荷
C- V测量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
太阳能学报
月刊
0254-0096
11-2082/TK
大16开
北京市海淀区花园路3号
2-165
1980
chi
出版文献量(篇)
7068
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14
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77807
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