虚拟仪器在存储元件记忆特性测试中的应用

• 作者: 俞承芳 汤庭鳌 虞惠华
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 存储元件 虚拟仪器 控制面板 程序框图
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: 支撑技术
• 页码范围: 53-56
• 页数: 4页
• 分类号: TN384|TN407
• 字数: 2012字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2001.04.016

摘要

论述了虚拟仪器在存储元件测量中的应用；介绍了采用虚拟仪器测试存储元件记忆特性的方法，并指出虚拟仪器的功能在基本硬件确定之后，可通过软件编程来实现，因而具有很大的灵活性，在对程序稍作修改后能适用于不同存储器件的测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞承芳	复旦大学电子工程系	38	482	11.0	21.0
2	汤庭鳌	复旦大学电子工程系	28	186	7.0	13.0
3	虞惠华	复旦大学电子工程系	4	19	1.0	4.0