射线底片上伪缺陷的识别与消除

• 作者: 万小晖 刘弘 张路根
• 来源期刊: 热处理技术与装备
• 关键词: 伪缺陷 识别 消除
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 测试技术与仪器
• 页码范围: 36-37
• 页数: 2页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-4971.2001.02.012

摘要

本文介绍了射线底片上伪缺陷形成原因、识别及消除方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘弘		3	16	2.0	3.0
2	张路根		23	96	5.0	9.0
3	万小晖		1	0	0.0	0.0