一种自制聚酰亚胺膜与商品Kapton H膜的驻极体性能比较

• 作者: 夏钟福 张冶文 李晓波 陈嵘
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 聚酰亚胺 驻极体 TSD
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 617-619
• 页数: 3页
• 分类号: TM278.014
• 字数: 2292字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2001.06.018

摘要

通过和杜邦公司产Kapton H商品膜驻极体性能比较,系统研究了由国产ZPKI型聚酰亚胺前体溶液制备薄膜的驻极体性能.通过常温和高温正负电晕充电,补偿法表面电位衰减测量及开路热刺激放电(TSD)电流谱等技术,研究了常温和高温驻极时PI膜的电荷稳定性及其电荷输运特性,高温致密化处理对样品驻极体性能的影响,以及正负电晕充电稳定性的化学结构分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张冶文	同济大学波耳固体物理研究所	77	666	15.0	23.0
2	夏钟福	同济大学波耳固体物理研究所	79	508	12.0	19.0
3	李晓波	同济大学波耳固体物理研究所	10	22	3.0	4.0
4	陈嵘	同济大学波耳固体物理研究所	7	9	2.0	3.0