电子产品的可靠性与可靠性增长试验

• 作者: 刘立勇
• 来源期刊: 实用测试技术
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 26-28
• 页数: 3页
• 字数: 2824字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5124.2001.01.011

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘立勇		2	4	2.0	2.0