用扫描电镜-微粒分析仪测量粉末样品

• 作者: 阮世池
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描电子显微镜 微粒分析仪 粉末测量
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 10,15
• 页数: 3页
• 分类号: TN16|TN604
• 字数: 1083字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2001.03.005

摘要

利用扫描电镜配备微粒分析仪(SEM/MPA)对粉末样品作了形貌观察和粒度统计分布测定，表明SEM/MPA可在陶瓷工艺、冶金工艺等材料工程中实际应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阮世池	电子科技大学材料分析中心	7	5	1.0	2.0