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摘要:
当X射线射入不同材料组成的界面时,在低Z材料的一侧将产生剂量增强.介绍了界面剂量增强效应的基本原理,并用蒙特-卡洛程序计算了钨-硅、钽-硅、钨-二氧化硅和钽-二氧化硅界面的剂量增强系数.
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文献信息
篇名 用蒙特卡罗法计算X射线在重金属界面的剂量增强系数
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 X射线 界面 辐射损伤 剂量增强系数
年,卷(期) 2001,(2) 所属期刊栏目 核物理学
研究方向 页码范围 189-192
页数 4页 分类号 O4
字数 2530字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2001.02.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈盘训 中国工程物理研究院电子工程研究所 5 34 3.0 5.0
2 牟维兵 中国工程物理研究院西南核物理与化学研究所 15 51 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
X射线
界面
辐射损伤
剂量增强系数
研究起点
研究来源
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物理学报
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