XeF激光器中XeF2气体的监测

• 作者: 张永生 赖富相
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 工学
• 关键词: XeF2 吸收截面 准分子激光
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 测量和防护
• 页码范围: 469-472
• 页数: 4页
• 分类号: TN24
• 字数: 2490字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3806.2001.06.015

摘要

给出了一种用吸收光谱法实时监测XeF激光器XeF2气体压强的方法，标定了XeF2气体在波长为253.7nm处的吸收截面的大小XeF-2532.7=(4.55±0.05)×cm2.用该监测系统测最一XeF2气体与3种作为激光器气室材料的反应速率,同时研究了XeF蓝绿激光器中输出激光能量与XeF2气体压强的关系。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张永生		34	126	6.0	9.0
2	赖富相		1	3	1.0	1.0