金刚石膜磁阻效应

• 作者: 孔春阳 廖克俊 方亮 王万录 王蜀霞 马勇
• 来源期刊: 重庆大学学报(自然科学版)
• 学科: 物理学
• 关键词: 金刚石膜 磁阻效应 电导率 迁移率
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 页码范围: 133-136
• 页数: 4页
• 分类号: O484.4
• 字数: 2797字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-582X.2001.04.036

摘要

在F-S薄膜理论的基础上,考虑了晶格散射和杂质散射,通过求解驰豫近似下的Boltzmann方程,计算了P型单晶半导体金刚石膜(矩形)在球形能带下的电导率及考虑金刚石的轻空穴带、重空穴带和分裂带为并联电阻模型时的磁阻.给出了磁阻和金刚石膜厚度、磁场强度、迁移率的关系.研究表明:金刚石的轻空穴带、重空穴带和分裂带对磁阻的影响各不相同.厚膜的磁阻和块材的磁阻相差不大.磁阻和温度、磁场强度、迁移率有密切关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王万录	重庆大学理学院	109	849	16.0	22.0
2	廖克俊	重庆大学理学院	66	513	12.0	19.0
3	马勇	重庆师范学院物理系	52	378	11.0	17.0
4	方亮	重庆大学理学院	62	513	12.0	18.0
5	孔春阳	重庆大学理学院	12	52	5.0	6.0
6	王蜀霞	重庆大学理学院	26	122	6.0	9.0