介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤中AgI薄膜厚度的计算模型

• 作者: 卞蓓亚 文天发 沈菊云 高建平
• 来源期刊: 硅酸盐学报
• 学科: 工学
• 关键词: 空芯光纤 碘化银薄膜 计算模型
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 简报
• 页码范围: 503-506
• 页数: 4页
• 分类号: TQ171
• 字数: 2208字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0454-5648.2001.05.025

摘要

AgI薄膜的厚度是影响介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤传输损耗的一个重要因素. 本研究推导出介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤中AgI薄膜厚度(h)的计算模型, 即c(h,t)=-C0[1-(2)/(π)∫(h)/(2Dt)0exp(-β2)dβ]; 通过热场发射Auger微探针及电子探针测试了不同工艺条件下所制得的介质Ag/AgI镀层玻璃空芯光纤中AgI薄膜厚度, 发现测试结果与理论计算值相吻合. 这为制备一定厚度AgI薄膜的介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤提供了实验指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈菊云	中国科学院上海硅酸盐研究所	19	262	9.0	16.0
2	高建平	中国科学院上海硅酸盐研究所	20	125	6.0	10.0
3	卞蓓亚	中国科学院上海硅酸盐研究所	17	65	5.0	7.0
4	文天发	中国科学院上海硅酸盐研究所	3	17	2.0	3.0