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摘要:
用分子束外延技术(MBE)生长了以GaAs/AlAs超晶格替代AlxGa1-xAs所形成的P型半导体/超晶格分布布拉格反射镜(DBR).此分布布拉格反射镜的反射谱中心波长为850nm.由实验表明,19个周期的反射镜获得了高达99%以上的高反射率.与此同时,采取自行设计的二次钨丝掩膜质子注入法制成15μm×15μm的正方形电流注入区,以此测定P型反射镜的串联电阻,克服了湿化学腐蚀法中腐蚀深度不易控制及侧面同时被腐蚀的缺点,实验得出此P型反射镜的串联电阻仅为50Ω左右.在生长过程中,发现在只含一个铝源的分子束外延生长系统中,生长这种半导体/超晶格反射镜相对其他半导体/半导体反射镜要节省很多外延生长时间,因此较适合应用于多层结构的光电器件中.
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文献信息
篇名 半导体/超晶格分布布拉格反射镜(DBR) 的分子束外延生长
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 分布布拉格反射镜(DBR) 超晶格 分子束外延(MBE) 反射谱 串联电阻
年,卷(期) 2001,(4) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 446-450
页数 5页 分类号 TN304.054
字数 3276字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2001.04.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 晏长岭 中国科学院长春光学精密机械物理研究所 5 44 4.0 5.0
2 赵英杰 3 19 3.0 3.0
3 钟景昌 4 19 3.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
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超晶格
分子束外延(MBE)
反射谱
串联电阻
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半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
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1980
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