基于X射线激励下的真空压力检测

• 作者: 张欲晓 潘勇 黄兴泉
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 真空 检测
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 59,62
• 页数: 2页
• 分类号: TM561.2
• 字数: 1691字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2001.04.024

摘要

利用X射线对气体分子的电离作用,在一定电压下用一束X射线照射真空灭弧室,使灭弧室内产生电离电流.实验证明,电离电流与灭弧室真空压力之间具有对应关系,有助于真空灭弧室真空压力的检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄兴泉		35	642	10.0	25.0
2	潘勇		6	8	2.0	2.0
3	张欲晓		13	175	6.0	13.0