通用测试平台的讨论

• 作者: 张多利 李丽 程作仁 高明伦
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 测试平台 功能向量 静态时序分析(STA) 参数化
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: MCU专题研究
• 页码范围: 4-7,11
• 页数: 5页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2001.05.002

摘要

文章着重从结构、管理、工具支持、测试人员的使用及平台的安全性等几个方面对如何建立可升级、参数化的通用测试平台提出一种解决方案,并努力使之具有普适性,以期指导更多的工程实践.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高明伦		5	51	4.0	5.0
2	程作仁		1	15	1.0	1.0
3	李丽		2	17	2.0	2.0
4	张多利		1	15	1.0	1.0